Metody statystyczne w kontrolowaniu i sterowaniu procesem (SPC,MSA)

Kolejna edycja trzech modułów jest etapem w procesie doskonalenia szkoleń o wykorzystaniu metod statystycznych w procesach, z szczególnym uwzględnieniem dostawców dla przemysłu samochodowego, rozpoczętym w 1999 roku.

Jej wynikiem było m.in. skrócenie cyklu z czterech do trzech modułów (SPC I, SPC II, MSA).


Metodologicznym założeniem dla tego cyklu szkoleń jest, obok przekazywania informacji wprowadzających oraz pogłębiających wiedzę z zakresu statystyki, również przekazanie sposobów praktycznego rozwiązywania zadań przemysłowych z wykorzystaniem oprogramowania i sprzętu komputerowego podczas szkolenia. Uczestnicy otrzymują autorskie oprogramowanie KWSSP (SPC) i KWASP (MSA).


Szkolenia w pełni kompatybilne z podręcznikami Statistical process control (SPC) i Measurement system analysis (MSA). W związku z powyższym zalecane jest uczestnictwo w wszystkich modułach.


Program szkoleń

Moduł I: Metody statystyczne w kontroli i sterowaniu procesem (SPC)

Dzień 1
  • Metody statystyczne w wymaganiach systemów zarządzania i zapewnienia jakości oraz w normach
  • Podstawy statystyki matematycznej - zmienność i jej miary; przykłady praktyczne
  • Rozkłady empiryczne i ich teoretyczne modele; rozkłady ciągłe i rozkłady dyskretne
  • Wnioskowanie statystyczne - estymacja parametrów rozkładów i testowanie hipotez statystycznych
  • Warsztaty - praktyczne przykłady wykorzystania wyłożonego materiału
  • Konsultacje
Dzień 2
  • Analiza wariancji - podstawy oraz przykłady zastosowania z klasyfikacją jednokrotną
  • Badania zależności dwóch cech - korelacja, regresja liniowa, przykłady zastosowania
  • Podstawy statystycznej kontroli odbiorczej
  • Warsztaty - praktyczne przykłady wykorzystania wyłożonego materiału
  • Konsultacje
Dzień 3
  • Podstawy statystycznej kontroli i sterowania procesem- rodzaje kart kontrolnych, analiza zdolności maszyny i procesu
  • Test zaliczeniowy
  • Omówienie wyników testu i zakończenie

Moduł II: Metody statystyczne w kontroli i sterowaniu procesem (SPC)

Dzień 1
  • Wymagania ISO/TS 16949:2009  dotyczące metod statystycznych
  • Statystyczne sterowanie procesem (SPC) jako podstawa ciągłego doskonalenia procesów
  • Proste i złożone karty kontrolne przy liczbowej i alternatywnej ocenie
  • Podręcznik SPC w przykładach z wykorzystaniem programu KWSSP - karty wartości średniej i
    rozstępu
  • Podręcznik SPC w przykładach z wykorzystaniem programu KWSSP - karty wartości średniej i
    odchylenia standardowego
  • Konsultacje
Dzień 2
  • Statystyczne badanie zdolności procesu dla rozkładów symetrycznych
  • Badania zależności dwóch cech - korelacja i regresja liniowa, przykłady zastosowania
  • Podręcznik SPC w przykładach z wykorzystaniem programu KWSSP - karty kontrolne stosowane
    przy ocenie alternatywnej
  • Podręcznik SPC w przykładach z wykorzystaniem programu KWSSP- badanie zdolności procesu
  • Konsultacje
Dzień 3
  • Statystyczne badanie zdolności procesu dla rozkładów asymetrycznych
  • Test zaliczeniowy
  • Omówienie wyników testu i zakończenie

Moduł III: Analiza systemów pomiarowych (MSA)

Dzień 1
  • Wymagania ISO/TS 16949:2002  w zakresie analizy systemów pomiarowych
  • Wprowadzenie do problematyki analizy systemów pomiarowych - koncepcja, modele i terminologia
  • Podręcznik MSA w przykładach - analiza systemów pomiarowych w warunkach powtarzalności i
    odtwarzalności
  • Podręcznik MSA w przykładach - analiza liniowości, dokładności i stabilności systemów pomiarowych
Dzień 2
  • Statystyczne właściwości systemów pomiarowych - procedury oceny systemów pomiarowych
  • Automatyzacja analizy systemów pomiarowych - praktyczne aspekty monitorowania procesów
  • Zapoznanie się z obsługą programu komputerowego KWASP
  • Podręcznik MSA w przykładach z wykorzystaniem programu KWASP - badanie zdolności procesu
  • Konsultacje
Dzień 3
  • Analiza niezawodności systemów pomiarowych
  • Test zaliczeniowy
  • Omówienie wyników testu i zakończenie




Powrót do listy szkoleń